Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 компания «JEOL», Япония

В исследованиях новых материалов и нанообъектов важную роль играет просвечивающая электронная микроскопия. Электронный микроскоп JEM-2100, являющийся последней моделью 200 кВ-микроскопов фирмы JEOL, сочетает высокие электронно-оптические параметры, разнообразные методические возможности получения и вывода информации, эффективность и удобство работы. Микроскоп оборудован LaB6 катодом повышенной яркости, цифровым сканирующим устройством, устройством изменения угла сходимости электронного пучка для выполнения исследований методом сходящегося пучка, гониометром с пьезоконтролем положения объекта на атомном уровне. Конструкция микроскопа обладает повышенной виброустойчивостью. Вывод изображений осуществляется как на флуоресцентный экран, так и на монитор с помощью CCD камеры высокого разрешения и с увеличенным полем зрения. В управлении многофункциональной электронно-оптической системой прибора и вывода изображения используется операционная система WINDOWS.

Виды выполняемых анализов:

• Светлопольные и темнопольные изображения тонких объектов “на просвет”;
• Изображения прямого разрешения кристаллической решетки;
• Изображения в растровом режиме;
• Изображения в сходящемся пучке.

Технические характеристики:

Основные технические характеристики:

Объекты исследования

Микроскоп предназначен для исследования реальной структуры тонких сечений массивных объектов, порошкообразных, пленочных и других объектов, изучаемых в физике твердого тела, материаловедении, биологии. Среди них – углеродные наноматериалы (нанотрубки, фуллерены), неорганические нанопорошки и пленки, высокотемпературные сверхпроводники, материалы оптоэлектроники и др.

Структура onion-like наночастиц, полученных отжигом наночастиц алмаза.

Дефекты упаковки в кубическом SiC.

Электронограмма оксида Ba₄Bi₁₁O_y, показывающая сложный характер упорядочения атомов бария и висмута.

Изображение решетки оксида BaBi₂O_y, показывающее наличие в структуре перовскитовых ячеек.